熱門搜索：掃描電鏡，臺(tái)式掃描電鏡，制樣設(shè)備CP離子研磨儀，原位樣品桿，可視化顆粒檢測(cè)，高分辨臺(tái)式顯微 CT，粉末原子層沉積系統(tǒng)，納米氣溶膠沉積系統(tǒng)
您好，歡迎訪問復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司！ 咨詢熱線：18516656178
Related articles
您的位置：網(wǎng)站首頁 > 產(chǎn)品展示 > 飛納電鏡 >
適用金屬和礦物研究—ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件 更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析
飛納Phenom ParticleX全自動(dòng)汽車清潔度分析系統(tǒng)以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對(duì)顆?；螂s質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)$n特點(diǎn)：01以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，02 多項(xiàng)設(shè)計(jì)，保證高通量快速運(yùn)行，03 靈活定制自動(dòng)分析流程，04標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程，提升產(chǎn)品穩(wěn)定性。$n主要功能：01自動(dòng)夾雜物識(shí)別，02自動(dòng)高清圖像采集，03 自動(dòng)能譜成分分析，04自動(dòng)夾雜物分類。
ParticleX Battery 全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)可以全自動(dòng)對(duì)正負(fù)極中的鐵類雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，整個(gè)過程無需人工參與。定量磁性雜質(zhì)顆粒的形態(tài)、數(shù)量和種類，以此判定是哪個(gè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)出了問題。
Thermo Scientific™ Apreo SEM 場(chǎng)發(fā)射電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，即使是磁性樣品或是傳統(tǒng)意義上成像非常困難的樣品也可以實(shí)現(xiàn)成像性能，因而備受贊譽(yù)。全新 Apreo 2 SEM 在原有性能基礎(chǔ)之上，進(jìn)一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設(shè)眾多新功能提升了其高級(jí)功能的易用性。
電話4008578882
傳真 
郵箱cici.yang@phenom-china.com
公司地址上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路88號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng)T5，705室
在線交流